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AF?微米級深度高度測量儀AFM-30

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱深圳市秋山貿(mào)易有限公司
  • 品       牌
  • 型       號AFM-30
  • 所  在  地深圳市
  • 廠商性質其他
  • 更新時間2024/10/13 16:12:54
  • 訪問次數(shù)159
產(chǎn)品標簽:

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深圳市秋山貿(mào)易有限公司成立于2016年，本公司主要經(jīng)營機械加工設備，食品加工設備，機電設備，電子能源相關設備，粉體制造設備，電子計測儀器，科學儀器，光電產(chǎn)品，檢測儀器等。歡迎新老朋友咨詢

 

食品加工設備、粉體制造設備、電子計測儀器、科學儀器、光電產(chǎn)品、檢測儀器等
1.是結合了光切斷的狹縫圖像觀察和點光圖像的AF(自動對焦)追蹤的新型深度高度測量機。2.通過連續(xù)追蹤AF驅動，可實現(xiàn)高精度重復測量，操作性好，速度快。3。由于是一邊觀察狹縫圖像映射出的臺階形狀一邊進行測量的方式，因此可以實時識別測量畫面上的高低，可以容易地判斷需要測量的部位。4.測定點處的狹縫圖像·點光像·電子線基準線的中心全部一致的測量系統(tǒng)，通過檢查偏差，可以防止用錯誤的數(shù)值進行測量。5.光切斷的仰角除了標準的90°外，還可以根據(jù)用途選擇導入30°60°120°。
AF?微米級深度高度測量儀AFM-30 產(chǎn)品信息

主要規(guī)格

観察方法

光切斷方式(利用狹縫光學系統(tǒng)測定深度高度)

■物鏡

固定倍率10倍(5倍、20倍)

軸駆動方式

基于點光的AF連續(xù)追蹤方式(離線時可手動測量)

投射縫隙

10um半反光鏡型

Z軸測量

Z軸數(shù)字線性儀表0.1閱讀

重復精度

~1微米以內(nèi)

使用光源

半導體激光器(類2)、鹵素光源

自動捕捉表示截面形狀的細狹縫光、紅色激光斑點、階梯差的變化，Z

軸功能迅速跟隨，進行測定數(shù)值的數(shù)字顯示(自動聚焦)·系統(tǒng))功能

與電子線方式的基準線相結合，擴大了測量范圍，提高了利用價值，是

新型的深度高度測量機。


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