LA-S系列植物根系分析系統(tǒng)根系分析儀（WSeens plant roots analyser）
LA-S型植物根系分析儀系統(tǒng)用于對洗凈的植物根系進行多參數(shù)快速分析
1、LA-S型植物根系分析儀系統(tǒng)可分析測量：
1）根總長；
2）根平均直徑；
3）根總面積；
4）根總體積；
5）根尖計數(shù)；
6）分叉計數(shù)；
7）交疊計數(shù)；
8）根直徑等級分布參數(shù)；
9）可不等間距地自定義分段直徑，自動測量各直徑段長度、投影面積、表面積、體積 等，及其分布參數(shù)；
10）根尖段長分布；
11）能進行根系的顏色分析，確定出根系存活數(shù)量，輸出不同顏色根系的直徑、長度、投影面積、表面積、體積；
12）能進行根系的拓撲分析，自動確定根的連接數(shù)、關(guān)系角等，可單獨自動分析主根或任意一支側(cè)根的長度和分叉數(shù)等；自動分析根系分級伸展的等級分布情況，可達到5級側(cè)根的自動分析；
13）可單獨顯示標記根系的任意直徑段相應(yīng)各參數(shù)（分檔數(shù)、檔直徑范圍任意可改）；
14）大批量的全自動根系分析，可對各自動分析結(jié)果圖進行編輯修正；
15）能用盒維數(shù)法自動測根系分形維數(shù)；
16）能進行根的分叉裁剪、合并、連接等修正，修正操作能回退，以快速獲得*正確的結(jié)果。精度：根長≤±1%；面積：優(yōu)質(zhì)圖像質(zhì)量時<1%，標準圖像質(zhì)量時≤3%；
17）匹配專門的雙光源照明系統(tǒng)，提供高分辨率的彩色或黑白圖像，去除了陰影和不均勻現(xiàn)象的影響，有效保證圖像質(zhì)量；
18）采用非統(tǒng)計學方法測量計算出交叉重疊部分根系長度等，可保存或讀取TIFF、BMP、PNG、JPEG、PCX標準格式的圖像。
19）可兼做針葉面積、體積測量，以及棉纖維粗細、長度測量。
2、人工輔助修正：圖像可放大縮小和局部觀察，可實現(xiàn)鼠標區(qū)域選擇統(tǒng)計、對污染區(qū)的輔助裁剪或橡皮擦修正。
3、統(tǒng)計效果監(jiān)視：監(jiān)視和修正植物對象分析的精度。
4、自動雜質(zhì)剔除：根據(jù)尺寸等方面的區(qū)別，進行自動雜質(zhì)剔除。
5、輔助測量功能：
尺寸標定：自帶標定功能，實現(xiàn)半自動的尺寸標定，XY向可分別標定修正；
長度測量：具有跟隨放大鏡功能，通過鼠標拖動精確測量；
6、數(shù)據(jù)導(dǎo)出
分析圖像、分布圖、結(jié)果數(shù)據(jù)可保存，分析結(jié)果輸出至Excel表，可輸出分析標記圖
LA-S型標配光學分辨率4800×9600、A4加長的Microtek ScanMaker i800雙光源彩色掃描儀，zui大分析測量面積：反射稿為A4加長幅面（35.6 cm×21.6 cm），掃描根面積30 cm×20 cm，可分辨的zui小尺寸0.008 ×0.008 mm。植物圖像分析測量精度（由掃描儀決定，可軟件部分校正）：X向≤±0.5 %，Y向≤±0.25%；長度測量重現(xiàn)性誤差<±0.25%；面積測量重現(xiàn)性誤差<±0.25%；臺間測量差異<±0.25%。測量分析時間：30~60秒。用戶需另配計算機。
注：若需大幅面分析，請選配：光學分辨率2400×4800dpi、A3的Microtek Phantom 9850XL plus掃描儀。
應(yīng)用萬深分析儀器 發(fā)表的部分學術(shù)論文 已有百篇：http://www.wseen.com/News.aspx?id=6
